Prácticas de laboratorio de realimentación negativa para la Electrónica Analógica I en el plan de estudio E

dc.contributor.advisorRoche Beltrán, Carlos Alberto
dc.contributor.authorGarcía Gutiérrez, Ricardo César
dc.coverage.spatial1016432en_US
dc.date.accessioned2017-10-12T17:31:01Z
dc.date.available2017-10-12T17:31:01Z
dc.date.issued2017-06-25
dc.description.abstractEn la presente investigación se elaboran prácticas de laboratorio sobre el tema de RAN para la EA I. Estas se fundamentan en una propuesta de esquema de tratamiento de los contenidos de RAN tomando en cuenta la representación que se puede obtener mediante las principales aplicaciones lineales del AO de manera que se simplifiquen los análisis necesarios a realizar en los circuitos conformados por más de una etapa amplificadora con transistores de unión bipolar (BJT) y transistores de efecto de campo (FET). Además se ofrecen un análisis comparativo, tomando como referencia las situaciones más representativas, que permiten ilustrar el acercamiento entre los resultados teóricos, simulados y reales.en_US
dc.description.statusnon-publisheden_US
dc.identifier.urihttps://dspace.uclv.edu.cu/handle/123456789/7964
dc.language.isoesen_US
dc.publisherUniversidad Central "Marta Abreu" de Las Villas, Facultad de Ingeniería Eléctrica, Departamento de Electrónica y Telecomunicacionesen_US
dc.rightsEste documento es Propiedad Patrimonial de la Universidad Central “Marta Abreu” de Las Villas.Los usuarios podrán hacer uso de esta obra bajo la siguiente licencia: CreativeCommons: Atribución-No Comercial-Compartir Igual 4.0 Licenseen_US
dc.subjectRealimentación negativaen_US
dc.subjectElectrónica analógicaen_US
dc.subjectPrácticas de laboratorioen_US
dc.titlePrácticas de laboratorio de realimentación negativa para la Electrónica Analógica I en el plan de estudio Een_US
dc.typeThesisen_US
dc.type.thesisbacheloren_US

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